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자료명 Evidence of electron fractionalization in the Hall coefficient at Mott criticality
저자명 Kim, K.-S. 발행기관 American Institute of Physics
발행년도 2011 학술지명 Physical review. B, Condensed matter and materials physics
학위구분(석사/박사) 권호정보 vol.84 no.8 pp.085111-085124
ISSN 1098-0121 국내구분 1
소개 홀 계수는 전자 분절화, 동적 평균장 이론 및 대칭 파괴에 의해 구동되는 금속 절연체 전환과 같은 모트의 임계 시나리오를 구별하여 페르미 표면의 재구성을 위한 메커니즘을 의미하며, 본 논문에서는 전자분산화가 다른 이론과 차별화된 독특한 특징인 모트 임계치에서 홀계수의 서명을 남기는 것을 발견하며, 또한, 양자 볼트만 방정식 접근방식을 기반으로 홀 계수를 평가하여 종방향 및 횡방향 전송 계수에서 게이지의 침입을 보장함
URL http://www.ndsl.kr/ndsl/search/detail/article/articleSearchResultDetail.do?cn=NART57825060&SITE=CLICK
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